ZHCSZ22A October 2025 – December 2025 LM5066H
PRODUCTION DATA
請(qǐng)參考 PDF 數(shù)據(jù)表獲取器件具體的封裝圖。
GATE_MASK 寄存器允許通過硬件設(shè)置,阻止故障條件觸發(fā) MOSFET 關(guān)斷。當(dāng)該位為高電平時(shí),相應(yīng)的故障無法控制 MOSFET 柵極。所有狀態(tài)寄存器仍處于更新狀態(tài)(STATUS、DIAGNOSTIC)和 SMBA 仍置為有效。通過 PMBus 讀取/寫入字節(jié)協(xié)議訪問該寄存器。
如果抑制 MOSFET 開關(guān)關(guān)閉以響應(yīng)過流或斷路器故障情況,則可能會(huì)導(dǎo)致 MOSFET 損壞。使用此功能時(shí)必須小心謹(jǐn)慎并受到監(jiān)督。
| 位 | 說明 | 默認(rèn)值 |
|---|---|---|
| 7 | SCP 故障 | 0 |
| 6 | FET_FAIL | 1 |
| 5 | VIN UV FAULT | 0 |
| 4 | VIN OV 故障 | 0 |
| 3 | IIN/PFET 故障 | 0 |
| 2 | 過熱故障 | 0 |
| 1 | 看門狗故障 | 1 |
| 0 | 斷路器故障 | 0 |
IIN/PFET 故障是指輸入電流故障和 MOSFET 功率耗散故障。無輸入電源故障檢測(cè),僅進(jìn)行輸入電源警告檢測(cè)。