ZHCSZ22A October 2025 – December 2025 LM5066H
PRODUCTION DATA
請(qǐng)參考 PDF 數(shù)據(jù)表獲取器件具體的封裝圖。
當(dāng)在啟動(dòng)或其他故障事件期間超過(guò)電流或功率限制閾值時(shí),該器件會(huì)調(diào)節(jié) GATE1 電壓,以控制負(fù)載電流并限制初級(jí) FET (Q1) 中的功率耗散。在這些調(diào)節(jié)時(shí)段內(nèi),75μA 電流源為連接至計(jì)時(shí)器引腳的外部故障計(jì)時(shí)器電容器 (CTMR) 充電,對(duì)于 LM5066H2,GATE2 將保持完全關(guān)斷狀態(tài)。如果在計(jì)時(shí)器引腳電壓達(dá)到 3.9V 之前限制條件解決,該器件將恢復(fù)正常工作,并且 CTMR 通過(guò) 10mA 灌電流進(jìn)行放電。但是,如果計(jì)時(shí)器引腳電壓在仍處于限制模式時(shí)達(dá)到 3.9V,GATE1 會(huì)通過(guò) 10mA 或 1.5A 下拉電流關(guān)斷。后續(xù)的重新啟動(dòng)行為取決于所選的重試配置。
當(dāng) RETRY 引腳為高電平時(shí),該器件會(huì)在故障超時(shí)期結(jié)束后將 GATE 鎖存為低電平。然后,計(jì)時(shí)電容器通過(guò) 2.5μA 灌電流向地放電。GATE 保持低電平,直到通過(guò)對(duì)輸入電壓進(jìn)行上下電循環(huán)或使用集電極開(kāi)路或漏極開(kāi)路器件短暫地將 UVLO/EN 引腳拉至其閾值以下來(lái)從外部啟動(dòng)上電序列。為了成功重新啟動(dòng),計(jì)時(shí)器引腳電壓必須低于 0.3V。在該鎖閉關(guān)斷條件下,DIAGNOSTIC_WORD (E1h) 寄存器中的 TIMER_LATCHED_OFF 位保持置位狀態(tài)。
圖 7-4 鎖存故障重啟控制LM5066Hx 采用用于故障恢復(fù)的可配置自動(dòng)重試機(jī)制。在故障超時(shí)期間之后,器件啟動(dòng)自動(dòng)重啟序列,在此期間計(jì)時(shí)器引腳會(huì)在 3.9V 至 1.2V 之間循環(huán)七次。每個(gè)周期的持續(xù)時(shí)間取決于外部計(jì)時(shí)器電容 (CTMR) 值,以及內(nèi)部 75μA 充電電流和 2.5μA 放電電流。在第八次高電平到低電平轉(zhuǎn)換期間,當(dāng)計(jì)時(shí)器引腳電壓達(dá)到 0.3V 時(shí),器件會(huì)激活 GATE 引腳上的 21μA 電流源,以開(kāi)啟外部 MOSFET (Q1)。如果故障情況仍然存在,則故障超時(shí)周期和重啟序列會(huì)根據(jù)編程的重試設(shè)置重復(fù)??赏ㄟ^(guò) RETRY 引腳選擇基本重試行為,支持“無(wú)重試(閉鎖關(guān)斷模式)”或“無(wú)限重試”兩種模式。為了實(shí)現(xiàn)更精確的控制,DEVICE_SETUP 寄存器 (D9h) 支持選擇特定重試計(jì)數(shù):0、1、2、4、8、16 或無(wú)限。這種可編程性使系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員能夠根據(jù)應(yīng)用要求優(yōu)化故障恢復(fù)行為。在閉鎖模式下,器件會(huì)將 FET 保持在關(guān)斷狀態(tài),直到發(fā)出 OPERATION OFF 命令,然后發(fā)出 OPERATION ON 命令,或發(fā)出 UVLO/EN 切換或 POWER_CYCLE 命令,或發(fā)生電源下電上電事件。
計(jì)時(shí)器放電電流可通過(guò) DEVICE_SETUP4 寄存器的位 6 配置為 2.5μA 或 75μA。重試延遲時(shí)序可以使用帶有外部電容器的模擬故障計(jì)時(shí)器或數(shù)字計(jì)時(shí)器,可通過(guò) DEVICE_SETUP4 的位 2:3 進(jìn)行選擇。使用數(shù)字時(shí)序時(shí),可使用 DELAY_CONFIG 寄存器的位 4:7 在 10ms 至 10s 的范圍內(nèi),對(duì)重試延遲周期進(jìn)行編程。