ZHCSZ22A October 2025 – December 2025 LM5066H
PRODUCTION DATA
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LM5066Hx 可在 5.5V 至 80V 輸入電壓范圍內(nèi)運(yùn)行,具有 100V 瞬態(tài)電壓能力。在初始上電期間,該器件通過(guò)在 GATEx 和 OUT 引腳之間施加 10mA 下拉電流,防止 MOSFET 意外導(dǎo)通,從而避免米勒電容充電效應(yīng)。計(jì)時(shí)器引腳初始電位為地電平。當(dāng) VIN 達(dá)到上電復(fù)位 (POR) 閾值時(shí),插入延遲序列開(kāi)始。在此期間,5μA 電流源為外部定時(shí)電容 (CTMR) 充電,而 10mA 下拉將使 MOSFET 保持在關(guān)斷狀態(tài)。此延遲使輸入電壓瞬變能夠在啟用導(dǎo)通器件之前穩(wěn)定下來(lái)。當(dāng)計(jì)時(shí)器引腳達(dá)到 3.9V 時(shí),插入延遲結(jié)束,此時(shí) CTMR 通過(guò)內(nèi)部 1.5mA 灌電流快速放電。
如果 VIN 在插入延遲后超過(guò) UVLO 閾值,則 GATE1 引腳將通過(guò) 21μA 電流源激活,為 MOSFET 柵極充電。內(nèi)部 16.5V 齊納二極管限制了最大柵源電壓。對(duì)于 LM5066H2,一旦 GATE1 VGS 超過(guò) 8V 且 VDS 降至 2V 以下,GATE2 就會(huì)通過(guò) 130μA 拉電流導(dǎo)通。隨著輸出電壓上升,該器件會(huì)監(jiān)測(cè)流經(jīng) MOSFET 的電流和功率耗散。在浪涌電流或功率限制期間,75μA 故障計(jì)時(shí)器電流為 CTMR 充電。如果在計(jì)時(shí)器達(dá)到 3.9V 之前限制條件得到解決,電流源將關(guān)閉,CTMR 將通過(guò) 2.5μA 灌電流進(jìn)行放電。如果計(jì)時(shí)器在仍處于限制條件下時(shí)達(dá)到 3.9V,則會(huì)將一個(gè)故障置為有效且 GATE1 關(guān)斷。
STATUS_MFR_SPECIFIC 寄存器 (80h) 中的 CONFIG_PRESET 位保持置位狀態(tài),直到使用 CLEAR_FAULTS 命令清除。一個(gè)可配置的看門狗計(jì)時(shí)器 (10ms 至 10s) 可監(jiān)測(cè)上電進(jìn)度。當(dāng) GATE1 啟用時(shí),該計(jì)時(shí)器將啟動(dòng),如果 PGD 未在設(shè)置的持續(xù)時(shí)間內(nèi)置為有效,則會(huì)在 STATUS_MFR_SPECIFIC_2 寄存器中指示 WD 計(jì)時(shí)器故障。該故障可以配置為通過(guò) GATE_MASK 寄存器關(guān)閉 GATE1 和 GATE2。
器件 SMBus 地址由上電時(shí)的 ADR0,ADR1 和 ADR2 引腳狀態(tài)決定,在 VDD 超過(guò)其 4.3V POR 閾值后鎖存??梢酝ㄟ^(guò)將 VREF 引腳保持為低電平來(lái)延遲地址捕獲,這同時(shí)也會(huì)復(fù)位邏輯并清除運(yùn)行存儲(chǔ)器。釋放后,該地址會(huì)在 VREF 超過(guò) 2.55V 時(shí)鎖存。對(duì)于自定義尋址,可在地址引腳懸空的情況下,通過(guò)編程 PMBUS_ADDR 寄存器來(lái)覆蓋硬件設(shè)置的地址。