ZHCSZ22A October 2025 – December 2025 LM5066H
PRODUCTION DATA
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LM5066Hx 采用 MOSFET 功率限制功能,可保護外部 FET 不在其安全工作區(qū) (SOA) 外工作。該功能通過測量由 GATE1 驅(qū)動的 MOSFET 的漏源電壓(SENSE 至 OUT)和通過檢測電阻 RSNS(VIN_K 至 SENSE)的漏極電流來監(jiān)測其功率耗散。可以使用 PWR 引腳上的電阻器來設(shè)置功率限制閾值。
當(dāng)功率耗散達到限制閾值時,器件會關(guān)斷 GATE2 并調(diào)制 GATE1 電壓,以調(diào)節(jié)通過 Q1 的電流。在功率限制期間,故障調(diào)節(jié)計時器激活。如果功率限制條件持續(xù)超過 CTMR 電容器設(shè)置的故障超時周期,GATE1 將會關(guān)斷。該事件會設(shè)置 STATUS_INPUT (7Ch) 寄存器中的 IIN_OC 故障位、STATUS_WORD (79h) 寄存器中的 INPUT 位以及 DIAGNOSTIC_WORD (E1h) 寄存器中的 IIN_OC/PFET_OP_FAULT 位。除非通過 ALERT_MASK (D8h) 寄存器禁用,否則 SMBA 引腳也會置為有效。
對于輸入電壓可能會發(fā)生階躍變化(例如 45V 至 55V)的應(yīng)用,該器件包含功率限制消隱模式。在正常運行期間,隨著 VDS 的增加,恒定功率限制曲線中的電流限制閾值會降低。這可能會導(dǎo)致器件在高負(fù)載下的整個故障計時器持續(xù)時間內(nèi)保持功率限制模式,從而可能關(guān)斷 FET。功率限制消隱通過在 VDS 低于 VPLIM,BL 閾值時禁用恒定功率限制型電流折返來解決該問題。這樣就允許更大的電流流動并為輸出電容器充電,同時為負(fù)載提供服務(wù),從而幫助輸出電壓達到輸入電壓,而無需關(guān)斷 MOSFET。VPLIM,BL 閾值可通過 DEVICE_SETUP4 寄存器的位 0:1 進行配置。
在 VDS 區(qū)域低于 VPLIM,BL 時,由于電流限制折返在功率限制消隱模式下被禁用,F(xiàn)ET 功率耗散將超過 PLIM。此功能僅在穩(wěn)定狀態(tài)下運行(當(dāng) PG = 高電平時),在啟動或重試條件下不可用。為了使 FET 保持在其 SOA 范圍內(nèi)運行,數(shù)字計時器在功率限制消隱模式期間激活。該計時器應(yīng)由設(shè)計人員配置,通常設(shè)置為短于調(diào)節(jié)計時器持續(xù)時間。
該器件針對不同的工作條件提供靈活的配置選項,允許根據(jù)系統(tǒng)要求選擇性啟用 SFT_STRT 至 GATE1 連接、電流限制、功率限制消隱模式、過流消隱和折返電流限制。