ZHDS036 January 2026 F29H850TU , F29H859TU-Q1 , TMCS1123 , TMCS1123-Q1 , TPS650362-Q1 , TPS650365-Q1
TCAN1164-Q1 使用內(nèi)部 EEPROM 進(jìn)行特定性能修整。加電時(shí),器件會(huì)從 EEPROM 加載內(nèi)部寄存器并執(zhí)行 CRC 校驗(yàn)。當(dāng)用于修整的內(nèi)部 EEPROM 存在 CRC 錯(cuò)誤時(shí),便會(huì)設(shè)置 CRC_EEPROM 中斷。