F29H859TU-Q1 MCU 上集成了高性能模擬塊，可進(jìn)一步支持系統(tǒng)整合。三個獨(dú)立的 12 位 SAR ADC 和兩個獨(dú)立的 16 位/12 位可選 SAR ADC 可以準(zhǔn)確、高效地管理多個模擬信號，最終提高系統(tǒng)吞吐量。四個模擬比較器模塊可以針對跳閘情況對輸入電壓電平進(jìn)行持續(xù)監(jiān)控。對于 ADC 支持的主要安全機(jī)制如下。

• DAC 至 ADC 環(huán)回檢查?？梢允褂?ADC 監(jiān)測 DAC 輸出來檢查 ADC 的完整性。DAC 可以配置并輸出一組預(yù)先確定的電壓電平。這些電壓電平可由 ADC 測量，并對照預(yù)期值進(jìn)行交叉檢查，以驗(yàn)證 ADC 是否正常工作。
• ADC 輸入信號完整性檢查。可以對 ADC 轉(zhuǎn)換混合使用硬件和軟件運(yùn)行時(shí)診斷來檢查 ADC 輸入信號的完整性?？梢越柚鷥?nèi)置硬件機(jī)制及軟件可配置閾值來驗(yàn)證輸入信號的合理性檢查?？梢允褂?ADC 后處理塊對轉(zhuǎn)換結(jié)果進(jìn)行合理性檢查。
• 使用 ADC 安全校驗(yàn)器實(shí)現(xiàn)硬件冗余。使用 ADC 的多個實(shí)例來對同一輸入進(jìn)行采樣并同時(shí)執(zhí)行相同的操作，然后對輸出值進(jìn)行交叉檢查。基于硬件的結(jié)果安全校驗(yàn)器模塊，在兩個結(jié)果都可用時(shí)自動比較主 ADC 和冗余 ADC 的結(jié)果。
• 包括錯誤測試在內(nèi)的功能軟件測試。支持在 ADC 模塊及后處理塊上運(yùn)行功能測試或故障注入測試?？梢杂赏獠侩娐坊騼?nèi)部 DAC 在 ADC 輸入引腳上提供一組預(yù)定的電壓電平?？梢詫⑥D(zhuǎn)換結(jié)果與預(yù)期值進(jìn)行比較，以檢查 ADC 模塊和后處理塊的功能正確性。
• 邏輯開機(jī)自檢。LPOST（邏輯開機(jī)自檢）在啟動及應(yīng)用期間在晶體管級為器件提供高診斷覆蓋率。為了快速執(zhí)行高質(zhì)量的制造測試，LPOST 采用插入器件的可測性設(shè)計(jì) (DFT) 結(jié)構(gòu)，但是使用的是一個內(nèi)部測試引擎而非外部自動測試設(shè)備 (ATE)。LPOST 測試由 BootROM 根據(jù) SECCFG 用戶輸入觸發(fā)。