F29H859TU-Q1 器件包含先進(jìn)的控制外設(shè)，這些外設(shè)具有 36 個(gè)增強(qiáng)型脈寬調(diào)制器 (ePWM) 通道，所有這些通道都具有高分辨率功能 (HRPWM)。增強(qiáng)型捕捉 (eCAP) 模塊可實(shí)現(xiàn)對(duì)于系統(tǒng)的出色控制。內(nèi)置的 Σ-Δ 濾波器模塊 (SDFM) 允許在隔離層上無縫集成過采樣 Σ-Δ 調(diào)制器。

• 硬件冗余。對(duì)于 PWM，可以通過多通道并聯(lián)并通過內(nèi)部或外部比較器比較輸出來實(shí)現(xiàn)硬件冗余。對(duì)于 eCAP、SDFM，可以讓外設(shè)的多個(gè)實(shí)例對(duì)相同的輸入進(jìn)行采樣并同時(shí)執(zhí)行相同的操作，然后對(duì)輸出值進(jìn)行交叉檢查，以此來實(shí)現(xiàn)硬件冗余。
• 通過 eCAP/HRCAP 監(jiān)控 ePWM/HRPWM?？梢酝ㄟ^輸入捕捉外設(shè)（如 eCAP/HRCAP）來監(jiān)測 ePWM/HRPWM 輸出是否正常運(yùn)行。捕獲的脈沖寬度可用于構(gòu)建附加診斷，供用戶實(shí)施以檢測 PWM 的上升沿和下降沿以及時(shí)間戳信息。當(dāng) eCAP/HRCAP 用作 PWM 診斷時(shí)，可通過定期測量 ePWM/HRPWM 脈沖寬度來測試。
• 在線 MINMAX 監(jiān)測跳閘事件。支持在配置的時(shí)間窗口內(nèi)檢測跳閘事件的發(fā)生。該窗口由 XMINMAX 寄存器組中配置的 MIN 和 MAX 值配置。
• 使用最小死區(qū)邏輯避免故障。最小死區(qū)邏輯可配置成驗(yàn)證兩個(gè) PWM 通道的有源脈沖相位和跨 PWM 實(shí)例之間的最小無源間隙（死區(qū)）。
• 硬件冗余以及使用 WADI 的輸出比較。波形分析儀和診斷 (WADI) 外設(shè)包含許多有用的內(nèi)置信號(hào)分析支持，同時(shí)為信號(hào)提供安全機(jī)制。WADI 能夠?qū)蝹€(gè)信號(hào)執(zhí)行以下檢查，或在兩個(gè)信號(hào)之間執(zhí)行檢查：脈寬測量、頻率測量、相位重疊測量、死區(qū)測量。
• 包括錯(cuò)誤測試在內(nèi)的功能軟件測試。支持在 ePWM 模塊上運(yùn)行功能測試或者故障注入測試。可以通過使用 PWM 提供適當(dāng)?shù)募?lì)并使用其中一個(gè)捕獲（時(shí)間戳）模塊 (eCAP) 觀察響應(yīng)來測試各個(gè)子模塊，以檢查 eCAP 或 ePWM 模塊的功能正確性。
• 使用信號(hào)監(jiān)控進(jìn)行錯(cuò)誤檢測?；谟布男盘?hào)監(jiān)控單元能夠測量 eCAP 輸入信號(hào)的邊沿、脈寬和周期，以檢查此事件是否發(fā)生在可編程預(yù)期范圍內(nèi)。
• 邏輯開機(jī)自檢。LPOST（邏輯開機(jī)自檢）在啟動(dòng)及應(yīng)用期間在晶體管級(jí)為器件提供高診斷覆蓋率。為了快速執(zhí)行高質(zhì)量的制造測試，LPOST 采用插入器件的可測性設(shè)計(jì) (DFT) 結(jié)構(gòu)，但是使用的是一個(gè)內(nèi)部測試引擎而非外部自動(dòng)測試設(shè)備 (ATE)。LPOST 測試由 BootROM 根據(jù) SECCFG 用戶輸入觸發(fā)。