第一項(xiàng)測(cè)試比較簧片開(kāi)關(guān)和 DRV5032 霍爾效應(yīng)開(kāi)關(guān)的性能。對(duì)于該測(cè)試，選擇距離 X 軸每一側(cè)的幾個(gè)距離用于檢測(cè)靈敏度。Z 軸值也發(fā)生變化，以顯示 {Z,Y} 平面中多個(gè)測(cè)量節(jié)點(diǎn)的靈敏度。該測(cè)試集還包括與 {X, Z} 平面上的變化節(jié)點(diǎn)相同的測(cè)試過(guò)程，以顯示與器件位置相關(guān)的靈敏度依賴性。圖 5-1 顯示了用于兩項(xiàng)測(cè)試的磁體靠近方式。

圖 5-1 正面靠近和側(cè)面靠近

本測(cè)試中使用的圓柱形磁體沿著磁體長(zhǎng)度方向進(jìn)行磁化。這會(huì)在磁體的中心點(diǎn)產(chǎn)生非常低的磁通值。因此，沿 y 軸的中心點(diǎn)位置不會(huì)為 DRV5032 提供有用的測(cè)試結(jié)果，但為了精確建模，還是添加了該位置。

對(duì)于每個(gè)相應(yīng)的節(jié)點(diǎn)坐標(biāo)（Y 軸、Z 軸），磁體緩慢地移向器件并記錄距離。使用標(biāo)準(zhǔn)卷尺以 1/16 (0.0625) 英寸的精度測(cè)量檢測(cè)距離。對(duì)于 DRV5032，該器件安裝在小型試驗(yàn)電路板上，由穩(wěn)定的 3.3V 直流電源供電。此外，使用一個(gè) LED 為檢測(cè)提供視覺(jué)指示。卷尺僅用于在事后從一條遮蔽膠帶上的標(biāo)記測(cè)量到 DRV5032 的距離，在測(cè)試期間移除以消除任何金屬影響。圖 5-2 展示了這種情況。

圖 5-2 DRV5032 測(cè)試設(shè)置