ZHCSWO1C May 2004 – December 2025 LOG114
PRODUCTION DATA
TI 為此器件認(rèn)證了多種合格的制造流程。性能差異按芯片原產(chǎn)地 (CSO) 進(jìn)行標(biāo)記。為確保系統(tǒng)穩(wěn)健性,強(qiáng)烈建議針對(duì)所有流程進(jìn)行設(shè)計(jì)。有關(guān)更多信息,請(qǐng)參閱節(jié) 8.1.1。