DAC39RFS10-SP
耐輻射加固保障、300krad、16位、單通道、10.4GSPS 12GHz 射頻數(shù)模轉(zhuǎn)換器
DAC39RFS10-SP
- 耐輻射保障 DAC39RFx10-SP:
- 單粒子翻轉(zhuǎn) (SEU) 抗擾度寄存器
- 單粒子閂鎖 (SEL):120MeV-cm2/mg
- RLAT 電離輻射總劑量 (TID):300krad (Si)
- 抗輻射 DAC39RFx10-SEP:
- 單粒子翻轉(zhuǎn) (SEU) 抗擾度寄存器
- 單粒子閂鎖 (SEL):43MeV-cm2/mg
- RLAT 電離輻射總劑量 (TID):30krad (Si)
- 16 位、10.4GSPS 或 20.8GSPS、多奈奎斯特 DAC 內(nèi)核
- 最大輸入數(shù)據(jù)速率:
- 8 位、單通道、DES 模式:20.8GSPS
- 12 位、單通道、DES 模式:15.5GSPS
- 16 位、單通道:10.4GSPS
- 8 位、雙通道:10.4GSPS
- 12 位,雙通道:7.75GSPS/通道
- 16 位、雙通道:6.2GSPS/通道
- 輸出帶寬 (-3dB):12GHz
- fOUT = 2.997GHz、DES2XL 模式下、DEM/抖動(dòng)關(guān)閉時(shí)的性能
- 本底噪聲(小信號(hào)):–155dBFS/Hz
- SFDR (-0.1dBFS):60dBc
- IMD3(每個(gè)音調(diào) -7dBFS):–62dBc
- 附加相位噪聲,10kHz 偏移:-138dBc/Hz
- 四個(gè)集成式數(shù)字上變頻器 (DUC)
- 內(nèi)插:1x、2x、3x、4x、6x、8x、12x ...256x
- 用于 I/Q 輸出的復(fù)基帶 DUC
- 用于雙通道直接射頻采樣的復(fù)數(shù)到實(shí)數(shù)上變頻
- 64 位頻率分辨率 NCO
- JESD204C 接口
- 最多 16 個(gè)通道,速率高達(dá) 12.8Gbps
- 符合 C-S 類子類 1
- 內(nèi)部交流耦合電容
- 用于自動(dòng) SYSREF 計(jì)時(shí)校準(zhǔn)的 SYSREF 窗口
- 空間篩選和保證:
- 符合 ASTM E595 釋氣規(guī)格要求
- 制造、封裝測(cè)試一體化基地
- 晶圓批次可追溯性
- 延長了產(chǎn)品生命周期
- 輻射批次驗(yàn)收測(cè)試 (RLAT)
- 生產(chǎn)老化處理(僅限 DAC39RFx10-SP)
- 該器件包含非封裝芯片蓋,錫 (Sn) 鍍層純度大于 97%。請(qǐng)參閱可靠性報(bào)告以了解詳情
DAC39RF10-Sx 和 RFS10-Sx 是一系列具有 16 位分辨率的雙通道和單通道數(shù)模轉(zhuǎn)換器 (DAC)。這些器件可用作非內(nèi)插或內(nèi)插 DAC,用于直接射頻采樣或復(fù)數(shù)基帶信號(hào)生成。單通道的最大輸入數(shù)據(jù)速率為 20.8GSPS,雙通道的最大輸入數(shù)據(jù)速率為 10.4GSPS。這些器件可在超過 10GHz 的載波頻率下生成高達(dá) 10GHz、7.5GHz 和 5GHz 的信號(hào)帶寬(8、12 和 16 位輸入分辨率),從而支持對(duì) C 帶進(jìn)行直接采樣。
高采樣速率、輸出頻率范圍、64 位 NCO 頻率分辨率和任何具有相位相干的跳頻也使得 DAC39RF10-Sx 和 RFS10-Sx 能實(shí)現(xiàn)任意波形生成 (AWG) 和直接數(shù)字合成 (DDS)。
符合 JESD204B 和 JESD204C 標(biāo)準(zhǔn)的串行接口具有 16 個(gè)接收器對(duì),速率高達(dá) 12.8Gbps。該接口符合 JESD204B 和 JESD204C 子類 1 標(biāo)準(zhǔn),可通過使用 SYSREF 實(shí)現(xiàn)確定性延遲和多器件同步。
技術(shù)文檔
| 頂層文檔 | 類型 | 標(biāo)題 | 格式選項(xiàng) | 下載最新的英語版本 | 日期 | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| * | 數(shù)據(jù)表 | DAC39RFx10-SP、DAC39RFx10-SEP 具有 JESD204C 接口的 10.4GSPS 或 20.8GSPS 16 位雙通道或單通道多奈奎斯特?cái)?shù)模轉(zhuǎn)換器 (DAC) 數(shù)據(jù)表 (Rev. A) | PDF | HTML | 2026年 3月 5日 | ||
| * | 輻射與可靠性報(bào)告 | DAC39RFx10-SP Total Ionizing Dose (TID) Radiation Report | PDF | HTML | 2026年 1月 20日 | ||
| 應(yīng)用手冊(cè) | 所選封裝材料的熱學(xué)和電學(xué)性質(zhì) | 2008年 10月 16日 | ||||
| 應(yīng)用手冊(cè) | 高速數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換 | 英語版 | 2008年 10月 16日 |
設(shè)計(jì)與開發(fā)
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