ZHCACS0 june 2023 ADC12DJ5200RF , ADC32RF52 , ADC32RF54 , ADC32RF55 , ADC34RF52 , ADC34RF55
3.1 一次性校準(zhǔn)
一次性校準(zhǔn)過程僅涉及在數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器的初始啟動序列期間執(zhí)行一次校準(zhǔn)。在 ADC32RF55 雙通道 14 位 3GSPS 射頻采樣 ADC 的特定情況下，執(zhí)行初始啟動序列以校準(zhǔn)所有內(nèi)部子 ADC 內(nèi)核，從而實現(xiàn)數(shù)據(jù)表中所列性能。如果不執(zhí)行此一次性校準(zhǔn)，轉(zhuǎn)換器將嚴(yán)重降級，并且沒有值得處理的數(shù)據(jù)，如圖 3-1 所示。但是，在執(zhí)行一次性校準(zhǔn)后，F(xiàn)FT 符合預(yù)期，如圖 3-2 所示。
圖 3-1 ADC32RF55 未經(jīng)過一次性校準(zhǔn)的輸出
圖 3-2 ADC32RF55 經(jīng)過一次性校準(zhǔn)的輸出同樣，ADC12DJ5200RF 是一款雙通道 12 位 5.2GSPS 射頻采樣 ADC，也需要一次性校準(zhǔn)，以便匹配子 ADC 內(nèi)核的增益和失調(diào)電壓，從而減少交錯雜散并改善 SFDR。在 ADC32RF55 和 ADC12DJ5200RF 器件的初始編程期間，串行外設(shè)接口 (SPI) 執(zhí)行一次性校準(zhǔn)。