1 引言

高速 ADC 在現(xiàn)代高度集成的數(shù)字系統(tǒng)中發(fā)揮著至關(guān)重要的作用；但是，這些 ADC 容易引入一系列誤差，這會顯著影響采樣信號的精度。這些誤差包括增益誤差、失調(diào)電壓誤差和線性偏差，它們會導(dǎo)致所獲得的數(shù)據(jù)失真。幸運(yùn)的是，校準(zhǔn)可以有效地減少這些誤差并提高 ADC 的性能，使其更接近預(yù)期行為。

校準(zhǔn)已成為現(xiàn)代 ADC 設(shè)計(jì)的一個重要方面，這是由更先進(jìn)工藝節(jié)點(diǎn)（例如 0.18μm 或更?。┑钠占巴苿拥摹＿@些工藝節(jié)點(diǎn)允許在 ADC 架構(gòu)內(nèi)進(jìn)行額外的數(shù)字特性集成。通過引入串行寄存器來啟用或禁用特定功能，數(shù)字修整的概念已成為傳統(tǒng)上激光修整器件偏置電流方法的替代方案，從而提高了 INL 和線性度。

回想過去，當(dāng)內(nèi)部 ADC 偏置電流的激光修整成為標(biāo)準(zhǔn)時，ADC 的 ADC 性能固定為對其進(jìn)行修整的最高速度或采樣率。與此預(yù)期采樣率的任何偏差都會導(dǎo)致性能下降。這種限制促使 ADC 器件系列中的器件具有多個速度等級，以滿足不同的采樣率要求。

隨著技術(shù)進(jìn)一步向前推進(jìn)并達(dá)到 65nm 及以下，數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器上的數(shù)字特性空間已顯著增加，從而能夠整合更多的數(shù)字元件和功能。這種擴(kuò)展為實(shí)時校準(zhǔn)打開了一扇新的大門，并允許對 ADC 進(jìn)行動態(tài)修整。

實(shí)時校準(zhǔn)已成為在各種采樣率和輸入頻率下對 ADC 性能進(jìn)行線性化處理的標(biāo)準(zhǔn)方法。這些校準(zhǔn)方法為系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員提供了靈活性，允許在其特定應(yīng)用中實(shí)現(xiàn)定制的 ADC 性能。通過提供超高靈活性，校準(zhǔn)使系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員能夠?qū)崿F(xiàn)卓越性能，而不受采樣率或輸入頻率變化的影響（與激光修整相比，這是一項(xiàng)重大進(jìn)步）。因此，同一個 ADC 可在許多不同應(yīng)用中提供出色的性能，從而實(shí)現(xiàn)可重新配置的系統(tǒng)。