7 長期漂移估算

長期漂移測試的時間范圍可從1000 小時到更長。該測試非常耗時，并可能會因設(shè)備校準(zhǔn)、設(shè)備故障和環(huán)境原因而出現(xiàn)測試問題。因此，能夠估計設(shè)備在整個系統(tǒng)使用壽命內(nèi)（可能長達(dá)10年）的行為非常重要。難點在于器件的非線性行為在不同器件之間以及不同產(chǎn)品之間并不一致。

有關(guān)估算很長時間內(nèi) LTD 的一種常見方法，請參閱Marek Lis 的《IC 長期穩(wěn)定性：《IC 長期穩(wěn)定性：唯一不變的是變化》。該文章講述的長期估算可用于估算很長時間內(nèi)的 LTD。圖 7-1 顯示了接近1000 小時的方程的精度。該公式的主要缺點是，從 4000 小時到 8760 小時，該公式會從典型值變?yōu)槌^10 年（87600 小時）的高估值。這是因為 REF50 無法表征的趨穩(wěn)行為。不同的基準(zhǔn)電壓具有不同的行為，并且可能會因為其趨穩(wěn)行為而與公式不匹配。該公式在對 LTD 進(jìn)行保守估計方面非常有用，但它也確實存在限制。