ZHCSO86C December 2022 – August 2025 LM74900-Q1 , LM74910-Q1 , LM74910H-Q1
PRODUCTION DATA
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LV124 標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的 E-10 測(cè)試可檢查電子模塊對(duì)于因接觸問(wèn)題或繼電器反彈而導(dǎo)致的電源輸入短時(shí)中斷問(wèn)題是否具有抗擾能力。該測(cè)試(案例 2)過(guò)程中會(huì)對(duì)輸入施加微短路,持續(xù)時(shí)間短至 10μs 至幾 ms。為了達(dá)到功能通過(guò)狀態(tài) A,電子模塊需要在 E-10 測(cè)試(案例 2)期間不間斷運(yùn)行 100μs。與單柵極驅(qū)動(dòng)控制器相比,LM749x0-Q1 的雙柵極驅(qū)動(dòng)架構(gòu)(DGATE 和 HGATE)能夠達(dá)到功能通過(guò)狀態(tài) A,并在輸出端提供最佳保持電容。當(dāng)輸入微短路持續(xù) 100μs 時(shí),LM749x0-Q1 通過(guò)將 DGATE 短接至陽(yáng)極(MOSFET 的源極)在 0.5μs 內(nèi)快速關(guān)斷 MOSFET Q1 以防止輸出放電,而 HGATE 保持導(dǎo)通狀態(tài)以使 MOSFET Q2 保持導(dǎo)通狀態(tài),從而在輸入短路條件消失后實(shí)現(xiàn)快速恢復(fù)。
在 E10 輸入電源中斷測(cè)試案例 2 期間 LM749x0-Q1 的性能如圖 10-4 所示。輸入短路消除后,輸入電壓恢復(fù)且 VAC 電壓超過(guò)正向?qū)ㄩ撝?(VAC_FWD),MOSFET Q1 快速重新導(dǎo)通。請(qǐng)注意,雙柵極驅(qū)動(dòng)拓?fù)湓试S MOSFET Q2 在測(cè)試期間保持導(dǎo)通狀態(tài),并有助于更快地恢復(fù)輸入功率。在整個(gè)持續(xù)時(shí)間內(nèi),輸出電壓保持不受干擾,從而達(dá)到功能狀態(tài) A。
圖 9-5 輸入微短路 – LV124 E10 TC 2 100μs